核心摘要:
- 中國研究人員實現了二維半導體材料的晶圓級生長。
- 新工藝為高性能電晶體實現了可控摻雜。
- 這一突破可能減少中國對外國晶片技術的依賴。
核心摘要:
中國在高性能二維半導體領域取得的一項研究突破,為在摩爾定律極限之外製造晶片開闢了新路徑,有望減少這個擁有 14 億人口的國家對外國技術的依賴。
來自國防科技大學和中國科學院金屬研究所的聯合團隊在頂級國際期刊《國家科學評論》上發表了他們的研究成果。
該研究展示了這些新型二維材料的晶圓級生長和可控摻雜,這是邁向大規模生產的關鍵一步。這項技術能夠製造高性能電晶體,即現代晶片的基本構建模組。雖然具體的性能指標尚未公開,但實現晶圓級生產的能力是一個重大的製造里程碑。
這一進展為中國實現半導體產業自給自足、自主可控的目標提供了潛在的材料基礎。這可能對台積電(TSMC)和三星(Samsung)等全球領導者產生長期競爭壓力,目前這些公司正通過 3 奈米和 2 奈米工藝節點挑戰矽基晶片的極限。
摩爾定律指出晶片上的電晶體數量大約每兩年翻一番,其終結促使全球範圍內的研究轉向替代材料。二維材料的厚度僅為幾個原子,被認為是替代矽的主要候選材料。
這一成就對中國技術雄心尤為重要。在持續的技術緊張局勢以及對先進晶片製造設備獲取受限的情況下,開發本土半導體技術已成為國家戰略重點。一種可行的二維半導體製造工藝可能使中國能夠繞過複雜矽供應鏈中的部分挑戰,實現「彎道超車」。
然而,從實驗室突破到商業化生產的道路漫長且耗資巨大。英特爾(INTC)和輝達(NVDA)等全球半導體巨頭也在大力投資「後摩爾時代」的研究,包括二維材料和其他先進封裝技術。中國團隊尚未透露潛在量產的時間表或涉及的具體成本。
本文僅供參考,不構成投資建議。